 |
北京飛凱曼科技有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： 霍爾效應(yīng)測(cè)試儀，塞貝克熱電效應(yīng)測(cè)試儀，高低溫真空探針臺(tái)，少子壽命測(cè)試儀，深能級(jí)瞬態(tài)譜儀，普克爾盒驅(qū)動(dòng)，非線性晶體，紅外晶體，光學(xué)元件 |
準(zhǔn)會(huì)員.png)
13
|
北京飛凱曼科技有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： 霍爾效應(yīng)測(cè)試儀，塞貝克熱電效應(yīng)測(cè)試儀，高低溫真空探針臺(tái)，少子壽命測(cè)試儀，深能級(jí)瞬態(tài)譜儀，普克爾盒驅(qū)動(dòng)，非線性晶體，紅外晶體，光學(xué)元件 |
| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱 | |||
|---|---|---|---|---|
|
FST150薄膜應(yīng)力測(cè)試儀 簡(jiǎn)單介紹：北京飛凱曼科技公司提供薄膜應(yīng)力測(cè)試儀。，又名薄膜殘余應(yīng)力測(cè)試儀或薄膜應(yīng)力儀，是專門用于測(cè)試和研究薄膜材料和薄膜制備工藝的*的工具。 薄膜中應(yīng)力的大小和分布對(duì)薄膜的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)有重要的影響, 可導(dǎo)致薄膜的光、電、磁、機(jī)械性能改變. 例如, 薄膜中的應(yīng)力是導(dǎo)致膜開(kāi)裂或與基體剝離的主要因素, 薄膜中存在的殘余應(yīng)力很多情況下影響MEMS 器件結(jié)構(gòu)的特性, 甚至嚴(yán)重劣化器件的性能, 薄膜的 產(chǎn)品型號(hào)：FST150 所在地：北京市 更新時(shí)間：2017-05-09 |
參考價(jià):面議 詢價(jià)留言 | ||
